如何有效的利用高低溫試（shì）驗箱對芯片進行測試

      東莞市勤卓（zhuó）環境測試設備有限公司一直非常專注於芯（xīn）片行業的老化（huà）測試（shì）需求的研發和（hé）設計，長期以來，先後與國內（nèi）各大芯片企業達成了（le）優質良性的合作，也對於芯片的老化測試有著一定的了解和經驗的累計，今天就針對（duì）高低溫試驗箱該類型的測試方（fāng）法和意義進行介紹和分享。

      高低溫試驗箱具備高溫，低溫，常（cháng）溫（wēn）等不同溫度的設定，在芯片行業廣泛用於老化測試，今（jīn）天海（hǎi）銀試驗裝備分享高低溫試驗箱對（duì）於芯片測試的方法和意義介紹。

      芯片最終產品檢測(FT)，是在晶片通過了封裝測試後對整個晶片進行的檢測。在封裝過程中經（jīng）常用來過濾有缺陷的芯（xīn）片和（hé）無法覆蓋的芯（xīn）片測試，如高速測（cè）試等。一般來說，封裝後的測（cè）試（shì），需要用到高低溫試驗箱，來對芯片（piàn）進行包括高溫、室溫、低溫、抽樣測試等幾（jǐ）個測試環節。

      芯片包裝後，將被送往最終測試:在不利環境（jìng）下強製不穩定的芯片無效。試驗過程中，旋轉機內的高（gāo）速運動會（huì）使焊接接頭與焊（hàn）接墊片機械結合不牢固。溫度過高會加速電子元件的失效。晶片最終會被放入特別（bié）的擱板，在正常運行數天後，這就是所謂的老化試驗（yàn）。一些微處理器芯片在預設頻率（lǜ）下無法工（gōng）作，但它們可以在（zài）較低頻率下正常工作，因此（cǐ）它們被用作（zuò）低價低速處理器芯片。老化測試成功的芯片可以賣給客戶。公司主要客戶為電（diàn）子行業，合格的芯片將應用於電子係統電路板。