硬核測試：國內SSD四大家族高低溫測試結果測評

一、什（shí）麽是SSD

      所謂 SSD ，英文全稱是 Solid State Drives ，即為固態硬盤。說到硬盤我想很（hěn）多人都知道是什麽意思，硬盤是計算機內部非常重要（yào）的硬件設備，它的主要功能就是存放（fàng）計算機內部的數據和文（wén）件，是（shì）計算機內部的一個主要倉（cāng）庫。硬盤一般分為（wéi）兩個（gè）類型，一種（zhǒng）是機械硬盤，另外一（yī）種就是固態硬盤。固態（tài）硬（yìng）盤是使用固態電子芯（xīn）片（piàn）陣列製成的硬（yìng）盤，一（yī）般由存儲單元和控製（zhì）單元組（zǔ）成（chéng），固態（tài）硬盤是目前最主（zhǔ）流的一種硬盤，而且在可預見的未來當中，短時（shí）間內（nèi）很難會被其他硬盤替代。

二、為什麽要對SSD進行高低溫測試？

因為SSD對於（yú）溫度的感（gǎn）應十分靈（líng）敏，不同的溫度段，會嚴重影響（xiǎng）它的內容量，所以進行高低溫（wēn）測試是對SSD質量評測的重要手段。

三（sān）、本次進行高低溫（wēn）測試的SSD是哪些品牌？

       為了展示（shì）國內四大品牌SSD“影馳（chí）、台電、七彩虹、金泰克（kè）”的真實性（xìng）能（néng），小（xiǎo）編開始了耗（hào）時72小時的（de）高低溫老化測試和常溫存放H2test校驗測試（shì），接下來就為（wéi）大家展示（shì）本階段測試的結果。

【固態硬盤實測】國內SSD四金（jīn）剛高低（dī）溫測（cè）試（shì）結（jié）果出爐！

測試具體介紹：本次使用設備勤卓（zhuó）品牌【勤卓（zhuó）品牌高低溫試驗箱】

測試硬件：高低溫試驗箱

測試軟件：BurnInTest、H2test

測試環境：高溫75℃／低溫－10℃

測試樣品：影馳鐵甲戰將、金泰（tài）克S300、台電A800、七彩虹SL500各5塊

測（cè）試流程（chéng）： 高溫75℃測試十二小時後切換低溫－10℃測試十二小時為一個周期，測試總時長為循環（huán）三個周期共72小時。72小時後使用H2校驗軟件，檢驗高低（dī）溫測試後（hòu）是否有壞塊（常溫存放）。

測試結果及小結

1  影馳鐵甲戰將

【固態硬盤實測】國內SSD四金剛高低溫測試結（jié）果出爐！

【固（gù）態硬盤實測】國內SSD四金（jīn）剛高低溫測試結果出爐！

影馳鐵甲戰（zhàn）將在第一個周期高溫轉低溫測試後出（chū）現兩塊固態硬盤報錯，高低溫測（cè）試結束後Burnintest軟件顯示（shì）兩塊硬盤分別出現13和（hé）526個（gè）錯誤，錯誤原因均為沒有足夠的可用空間（掉盤） 。高低溫測試結束後（hòu）進行了一小時的常溫存放，並使用H2test軟件進行校驗，其餘三塊固態硬盤均未發現（xiàn）壞塊。

2  台電（diàn）A800

【固態硬（yìng）盤實測】國（guó）內SSD四金剛高低溫測試結果出爐！


台電A800在（zài）第一周期高低（dī）溫測試中表（biǎo）現亮眼，未有錯誤出現；在（zài）第（dì）二（èr）周期－10℃低溫（wēn）測試中BIT軟件顯示（shì）F盤在讀（dú）取時出現了錯誤；在第三（sān）個周期（qī）的低溫測（cè）試期間，D盤顯示在硬盤測試的尋找部分中，請求的查找大小與實際的查找大小不匹配。（硬盤損壞或掉盤）。高低溫測試結束（shù）後（hòu），F盤和D盤分別出現3個和（hé）1個（gè）錯（cuò）誤。之後進行常溫存（cún）放並使用H2test測試校驗，其餘三塊固（gù）態硬盤未出現錯誤。

3 金泰克S300

【固（gù）態硬盤實測】國內（nèi）SSD四金剛高低溫測試結果出爐！

經過七十二小時連續（xù）的高低溫轉化測試後，五（wǔ）塊金泰克S300固態硬盤均沒有出現（xiàn）錯誤，能（néng）夠在高溫75攝氏度和（hé）低溫－10℃的極限（xiàn）環境下運行工作。並且在常溫（wēn）存放後進行H2test校驗，未（wèi）出現數據在傳輸方麵出現錯誤的情況

4 七彩虹SL500



七彩虹SL500經過七十二小時連（lián）續的高低溫轉化（huà）測試後，未（wèi）發現硬盤錯誤。在常溫存放後進行H2test校驗，讀寫速度均在300M／s左右，未發現硬盤錯誤（wù）。

小（xiǎo）結：高低溫測試中（zhōng），影馳鐵（tiě）甲戰將和（hé）台電（diàn）A800分別（bié）有兩塊固態（tài）硬盤出現錯誤（wù），其中影馳鐵甲戰（zhàn）將在第一個周期－10℃低溫測試中出現兩個報錯，錯誤原因均為沒有足（zú）夠的可用空間（掉盤）；台電A800在第二周期低溫測試中F盤讀取時（shí）出現了錯誤，第（dì）三周期低溫測試期間，D盤出現了“硬盤測試的尋找（zhǎo）部分中，請（qǐng）求的查找大小與實際的查找大小不匹配（硬盤損壞或掉盤）”的狀況。此外金泰克（kè）S300和七彩虹SL500在高低溫測試中（zhōng）未出現錯誤。

H2test（常溫存放）測試顯示，通過（guò）高低溫測試的固態硬盤（pán）均未出現磁盤壞塊。

本次國內“四大金剛”高低溫測（cè）試階段，溫度設置在－10℃至75℃，與常規（guī）的0℃至70℃測試相（xiàng）比溫度範圍有所擴大，這也是閃德本次測試的（de）精心設（shè）計，－10℃的環境在現實生活中並不少（shǎo）見（jiàn），閃德君通過本次高低溫測試為特殊工作（zuò）環境（jìng）和北方的小（xiǎo）夥（huǒ）伴們發聲（shēng），望國產廠商能夠（gòu）注重溫度等環境對固態硬盤工作的影響，提（tí）升國（guó）產固態質（zhì）量。

預告：閃德的測試不會停（tíng），接下來閃德君會將剛（gāng）剛經受住高低溫測試（shì）的固態硬盤帶入下（xià）一（yī）階段的測試——休眠測試。本次測試使用PassMark Sleeper軟件，讓電腦（nǎo）定時進入休眠狀態，並（bìng）定時自動喚醒，重複測試3000次，同時使用BIT老化軟件監測（cè），檢驗固態硬盤（pán）在睡眠周期中的穩定性。